Дипломные, курсовые и контрольные работы на заказ Заказать написание уникальной работы, купить готовую работу  
 
Заказать реферат на тему
Диплом на заказа
Крусовые и рефераты
Заказать курсовик по химии
Заказать дипломную работу
контрольные работы по математике
контрольные работы по геометрии
Заказать курсовую работу
первод с английского
 
   
   
 
Каталог работ --> Естественные --> Физика --> Кристаллофизика - контрольная работа (20 вопросов).

Кристаллофизика - контрольная работа (20 вопросов).

Москва

Контрольная по предмету:
"Физика"



Название работы:
"Кристаллофизика - контрольная работа (20 вопросов)."




Автор работы: Ольга
Страниц: 10 шт.



Год:2008

Цена всего:750 рублей

Цена:1750 рублей

Купить Заказать персональную работу


Краткая выдержка из текста работы (Аннотация)

3.(2.5). Что такое координационное число? Приведите значения координационных чисел для примитивной и ОЦК решетки.

Координационное число в кристаллографии, число ближайших к данному атому или иону соседних одинаковых атомов или ионов в кристалле. Прямые линии, соединяющие центры ближайших атомов или ионов в кристалле, образуют координационный многогранник, в центре которого находится данный атом. Одному и тому же К. ч. могут соответствовать разные многогранники.

Координационное число примитивной решетки равно 6, а ОЦК решетки 8.

7.(3.2). Что такое линейные дефекты в кристаллах? Какова их плотность для отожженного металла?

Линейные дефекты - это краевые дефекты представляющие собой как бы сдвиг части кристаллической решетки. Линейные дефекты бывают выраженными больше в одном направлении. Поверхностные дефекты вызваны различной ориентацией кристаллических решеток. В результате по границам зерен решетка одного переходит в решетку другого и нарушается симметрия атомов.

Одной из важнейших характеристик дислокаций является их плотность - суммарная длина всех линий дислокаций в единице объема материала (размерность см/см3 или см-2). Плотность дислокаций определяется экспериментально, как среднее число линий дислокаций, пересекающих единичную площадку. Для отожженных металлов плотность дислокаций составляет 106 - 108 см-2.

8.(2.2). Что такое базоцентрированная система трансляции? Укажите системы трансляции, возможные для кубической сингонии.

В каждой кристаллической решетке можно выделить группу атомов или ионов, которая периодически повторяется в пространстве. Эта группа является как бы элементарным "кирпичиком", из которого сложена кристаллическая решетка. Всю решетку можно построить повторением одной группы, путем ее параллельного переноса. Для того чтобы лучше изучить закон, по которому та группа повторяется в пространстве, можно каждую такую группу обозначить только одной точкой. Совокупность таких точек, называемых узлами, образует трансляционную решетку кристалла.

В отличие от реальной кристаллической решетки трансляционная решетка есть абстрактный геометрический образ, отражающий только трансляционные свойства кристалла.

Соответственно базоцентрированная система трансляции позволяет транслировать базоцентрированные ячейки, создавая кристаллическую решетку.

Для кубической сингонии возможен параллельный перенос в трех направлениях, совпадающих с направлениями ребер ячейки.

Содержание работы

1.(2.3). Что такое базис? Какой базис у ГЦК решетки?

2.(2.2). Какое число атомов приходится на ячейку ГЦК в решетке? Запишите базис для этой решетки.

3.(2.5). Что такое координационное число? Приведите значения координационных чисел для примитивной и ОЦК решетки.

4.(2.3). Напишите базис ОЦК решетки.

5.(3.2). Назовите и изобразите линейные дефекты кристаллической решетки.

6.(3.9). Чему равен вектор Бюргера в ГЦК решетке?

7.(3.2). Что такое линейные дефекты в кристаллах? Какова их плотность для отожженного металла?

8.(4.1). Укажите индексы плотно упакованных плоскостей и направлений в ГЦК решетке.

9.(4.1). Определите коэффициент Шмидта, если углы =450 и =00. Какое максимальное значение коэффициента Шмидта.

10.(4.2). Приведите плотно упакованные направления в ОЦК и ГЦК решетках.

1.(1.2). Определите индексы направления, если на нем лежит точка с координатами [[1/2.1.0]].

2.(1.2). Точка, лежащая на данном направлении, имеет координаты [[1/2,1/2,0]]. Каковы индексы этого направления?

3.(1.2). Дайте определение гномостереографической проекции плоскости (ГСП). Покажите на схеме ГСП, параллельную плоскости проекций.

4.(1.3). Что называется стандартной проекцией? Укажите 2-3 индекса плоскостей, лежащих на круге проекций в стандартной проекции [100].

5.(1.3). Что такое индексы плоскости? Записать в общем виде индексы плоскости, параллельной координатной плоскости (ХУ)

6.(1.6). Выпишите три плоскости входящих в зону с осью [111].

7.(1.6). Какие плоскости образуют зону? Что называется осью зоны? Напишите три плоскости, принадлежащие зоне [111].

8.(2.2). Что такое базоцентрированная система трансляции? Укажите системы трансляции, возможные для кубической сингонии.

9.(2.2). Определите период ОЦК решетки Fe, если радиус атома составляет 0,126 нМ.

10.(2.2). Что такое элементарная ячейка? Изобразите ее для ОЦК решетки.

Использованная литература

  1. .
  2. Повареных А.С. Кристаллохимическая классификация минеральных видов. Киев, «Наукова думка», 1966.
  3. Кристаллофизика минералов. Издательство казанского университета 1979.
  4. Р. П. Дикарева Введение в кристаллофизику. Наука, 2007 г.
  5. Физика и химия соединений АII ВVI=Physics and chemistry of II-VI compounds:[Монография]/Пер. с англ. под ред. С. А. Медведева -М.:Мир,1970.
  6. Современная кристаллография. Под редакцией Б.К.Вайнштейна. Т.1 4. Наука, М., 1979.
  7. Основы кристаллофизики. Ю.И.Сиротин, М.П.Шаскольская. Наука, М., 1980.
  8. Кристаллография. М.П.Шаскольская. Наука, М., 1979.
  9. Кристаллография, рентгенография, электронная микроскопия. Я.С.Уманский и др. М., 1986.
  10. Дифракционный и резонансный структурный анализ. Жданов Г.С. Наука.1980.
  11. 10. Определение структуры кристаллов. Г.Липсон, В.Кокрен. М., 1976.
  12. Рентгеноструктурный анализ. Т.1. Г.Б.Бокий, М.А.Кошиц, МГУ, М., 1964.
  13. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. С.С.Горелик и др. М., 1978.
  14. Магнитная нейтронография. Наука. М., 1966.
  15. Рентгеновская кристаллография. Мельбурн. Мир. М., 1975.
  16. Структурная электронография. Б.К.Вайнштейн. Наука. И., 1956.
  17. Кристаллохимия. Бокий. Наука. М., 1976.
  18. Основы физики рентгеновского излучения. Павлинский Г.В. Иркутск 1999г.
  19. Математические основы оптической и рентгеновской гониометрии. Лиопо В.А. Калихман В.М. Учебное пособие.Иркутск, 1999 г.


Другие похожие работы